PCI-SIG 6.0規範引入了PAM4信號，旨在在保持NRZ信號向後兼容的同時（shí）實現（xiàn）64GT/s。多級（PAM4）方法為采用者和驗證團隊帶（dài）來了新的信號完整性挑（tiāo）戰。Tektronix的PCI Express 6.0軟件通過自動化測試來（lái）減少這種新複雜性，確保測量的準（zhǔn）確性和可重複性。
Tektronix的PCE6 (Gen6)選項、PCE5 (Gen5)選項、PCE4 (Gen4)選項和PCE3 (Gen 1/2/3)選項應用程序為PCI Express發射機和參考時（shí）鍾符合性測試以及根據PCI-SIG®規範（fàn）進行PCI Express設備調試和驗證提供了全麵的解（jiě）決方案。
特點和優勢
支持PCI Express Gen6基礎（矽片）發射機測試
支持Tektronix DPO/MSO70000係列示波器（qì）在基礎（矽片）和CEM（係統）級別對PCI Express Gen 1/2/3/4/5發射機進行驗證和符合性測試
使（shǐ）用SkyWorks時鍾抖動工具和DPOJET對Gen1到Gen5的參（cān）考時鍾抖動和信號完整性進行測量
使（shǐ）用DPOJET/PAMJET對64GT/s（PAM4）信號完整（zhěng）性進行測量
使用AC Fit方法進行PCIe Gen6發射機均衡（héng）預設測試
自動（dòng）化配置示波器，包括垂直和水平刻度（dù），以進行準確和符合規範的測量
自動獲取和波形管理，簡化了對支持的數據速率、發射機符合性模式和通道寬（kuān）度的測試
自動（dòng）控製設備以遍曆數據速率（lǜ）和符合性模式
自動化PCIe3測（cè）試解決（jué）方案的射頻開關，支持多（duō）達16通道
支持（chí）NVMe和CXL物理層測試
去嵌斷路通道、測試夾具和（hé）電纜的影響，以在感興趣的（de）測試點（diǎn）處進行（háng）測（cè）量（需要SDLA 串行數（shù）據鏈路（lù）分析選項）
測試選擇：選擇要執行分析的規範，並（bìng）選（xuǎn）擇單（dān）個（gè）或多個測試以進行針對失敗測試的符（fú）合性分析
SigTest集成：使用命令（lìng）行（háng）界麵執行已獲取波形的分析，提供使用PCI-SIG®推薦的分析工具（jù）測試係統的（de）能力（lì）
使（shǐ）用多個sigtest實例並行（háng）分析多個波（bō）形
使（shǐ）用SigTest Phoenix進行Gen5 AC Fit發射機均衡預（yù）設表征
報告：將所有測試結果匯編（biān）成可定製的報告，帶有通過/失敗結果，便於分析和記錄保存
報告頂部的匯總表便於快速查看規範（fàn）性測量結果
模（mó）式匹配：驗證（zhèng）發射機在獲取（qǔ）信號進（jìn）行符合性分析之前發送的符合性模式是否正確。此功能支（zhī）持高達Gen3數據速率
PHY級協議解（jiě）碼：解碼並顯示協議感知視圖中的PCIe數據（jù）。具有波形的時間相關事件表視圖允許快速（sù）搜索感興趣的事件
多通道測試：在多個PCI Express數據通道上執行分析，以加快多通道係統中（zhōng）的發射機分析
符合性和調試：提供（gòng）基於DPOJET的（de）工具包，以便在DUT（設備在測試（shì））未通（tōng）過符合性測（cè）試（shì）時快（kuài）速切換（huàn）到調試和驗證模式
分析和調試工具：Tektronix提供了廣泛的符合性、調試和驗證工具，適用於發射機（Tx）、接收機（Rx）和協議測試
全麵的程序接口：支持使（shǐ）用標準可編（biān）程儀器命令（SCPI）與TekExpress應用程序通信（xìn），實現程序和腳本自動化調用與PCIe相關的TekExpress功能
應用領域
Tektronix為在基礎（chǔ）（矽片）和係統（tǒng）級別上驗證和符合PCI Express發射機提供了全麵的解決方案，包括支持CEM、U.2和（hé）M.2接口（kǒu）。使（shǐ）用PCI Express物理層的多種（zhǒng）協議（包括NVMe和CXL）可以利用（yòng）TekExpress軟件解決方案下的發射機和參（cān）考時鍾自動化功能。
Tektronix的PCE3 (Gen1/2/3)選項（xiàng）、PCE4 (Gen4)選項和PCE5 (Gen5)選項（xiàng）包括以（yǐ）下的符合性（xìng）和調（diào）試測試以及（jí）電氣驗證：
• Root Complex Tx抖動和電（diàn）壓
• Endpoint Tx抖動和電壓
• 開關
• 橋接器
• 插入卡
• 係統板
• 嵌入式係統
• Express模塊
在PCIe Gen 1和Gen 2中，偏斜測量需要特別注意一致性碼型（xíng）（如K28.5，D21.5）並確保每條lane的測試以相同的碼型起點進行。以（yǐ）下是詳細（xì）的測試步驟：
Tektronix PCE6 (Gen6)選項包括以下信號質量測量：
• 單位間隔（Unit Interval）
• V-TX-DIFF-PP
• V-TX-EIEOS-FS
• T-TX-UTJ
• T-TX-UDJDD
• T-TX-RJ
• RLM-TX
• SNDR
• PS21 TX
• V-TX-BOOST
• T-TX-UPW-TJ
• T-TX-UPW-DJDD
• V-TX-AC-CM-PP
• V-TX-AC-CM-PP-Filtered
PCIe Gen6對於每個預設值（zhí）有兩個Preshoot值和（hé）一個de-embeded值，這使得預設測試算法更（gèng）加複雜。Tektronix PCE6還配（pèi）備了Tektronix預設測試工具，可以由TekExpress或手動使用。
TekExpress符合性自動化現已可用（yòng）於PCIe Gen 1-3 CEM和Gen 3基礎測試通過PCE3選項，Gen4 CEM和Gen4基礎測試通過PCE4選（xuǎn）項，以及Gen5 CEM和Gen5基（jī）礎測試通過PCE5選項。
PCE3、PCE4和PCE5選項應用程序與Tektronix DPO/MSO70000係（xì）列示波（bō）器兼容，設計用於（yú）應（yīng）對下一（yī）代串行數據標（biāo）準（如PCI Express）的（de）挑戰（zhàn）。這些示波器提供了領先的垂直噪聲性能和平坦的頻率響應。Tektronix DPO/MSO70000係列示波器已獲得PCI-SIG的（de）符合（hé）性測試批準。
符合性測試
PCI-SIG提供了用於測試PCI Express係統和附加卡的符合性測試。為了將PCI Express係統或設（shè）備列入集（jí）成列表，該係統或設備（bèi）必須通過互操作性和符合性測試。對於電氣驗證（zhèng），PCI-SIG使（shǐ）用SigTest後捕獲分析軟件，該軟（ruǎn）件使用連接到PCI-SIG的CBB（主板+插接板（bǎn））測試夾具的示（shì）波器捕獲的波形來分析附加卡（kǎ），或使用CLB測試夾具分析係統。手動捕獲所需（xū）的波形並進行分析是繁瑣且耗時的（de），容（róng）易（yì）出錯。
Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項中的TekExpress自動化（huà）用於PCI Express發射機符合性測（cè）試，減少了測試的工作量，並通過多項獨特和創新功（gōng）能加快了符合性測試的速度。這（zhè）些選項最終允許測（cè）試支持多種技術的設（shè）備，如支持NVMe的附加卡設備，或通過U.2或（huò）M.2連接器進行測試。
Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項中的TekExpress自動化軟件可以通過選擇特定型（xíng）號的Tektronix AFG或AWG、GRL PCIE 3/4 控（kòng）製器（qì）或NI USB6501 CBB控製器來控製DUT，自動（dòng）循環通過符合性（xìng）測試所需的各種速度、去加重和預設值。這消除了在CBB和CLB測試夾具上使用手動按鈕控製DUT時容易出錯的問題。
一（yī）個完（wán）整的測試運行需（xū）要在不同的DUT設置下在每個通道上獲取多個波形。需要分（fèn）析的波形集會隨著通道數量的增加而增加。管理和（hé）存儲用（yòng）於分析和未來參考（kǎo）的數據是任何符合性解決方案的重（chóng）要標準。PCE3、PCE4和（hé）PCE5選項中的TekExpress自動化軟件除了調整水平和垂直設置以及（jí）采集深度（dù）以獲（huò）得最佳信號質量進行準確分析（xī）外，還提供了簡化多重獲取（qǔ）波形管理的功能。
該功能利用PCI-SIG的SigTest EXE分析已獲取的波形，使得分（fèn）析結果與PCI-SIG工作組用於符合性測試的SigTest後捕獲分析軟件一致。
PCE3、PCE4和PCE5選項中的（de）TekExpress自動化軟件在（zài）選擇數據速率、電壓擺動、預設值和要運行的測試方麵提供了靈活性。它還提供了去嵌（qiàn）通道和測試夾具效應的選（xuǎn）項，能夠根據規範要求提供（gòng）引腳信號的準確表示。
TekExpress使用Tektronix下一代PAM4工具PAMJET進行測量。在分析過程中，TekExpress會根據規範自動設置該工具，捕獲結果（guǒ）並將其報告給用戶。PAMJET還允許專（zhuān）家用（yòng）戶配置PAMJET工具，以在非規範設置下測試DUT進行調試。
PAMJET引入了信號與噪聲失真比（SNDR）測量，其測量方法已更新（xīn），以支持最新的PCI Express 6.0基礎規範。集成了儀器噪聲（shēng）補償功能（néng）以提高測量的準確性。
所（suǒ）有分析（xī）結果都編譯成PDF/HTML/CSV格式的報告（gào），其中可以包括通過/失敗摘要、眼圖、設置（zhì）配置（zhì）和用（yòng）戶評論。報告的內容可以自定義，以包括感興趣的信息，如附加結果和基於測試名（míng）稱/通過（guò）失（shī）敗/均衡化的自定義報告生成（chéng）。
使用TekExpress進行參考時鍾測試
由於PCI-SIG標準支持的最高數據速率驅動的抖動限製減少，參考時鍾測試已經從可選變為許多設計（jì）中的必需。此外，由於在Gen5係統中取消了雙端（duān）口（數據和時（shí）鍾發射機測試），因此需要在參考時鍾上進行符合性測試。TekExpress PCIe解（jiě）決方案現（xiàn）已集成了SkyWorks時鍾抖動（dòng）工具，使參考時鍾測試自（zì）動化且無麻煩。一旦用戶將參考時鍾輸出連接到示波器，TekExpress PCIe軟件將（jiāng）獲取信號，調用（yòng）SkyWorks時鍾抖動工具，並提供Gen1至Gen5的參考（kǎo）時鍾測試結果。Skyworks時鍾抖動工具支持儀器噪聲補償。
開關（guān）矩陣（zhèn）自動化
開關矩陣應用程序允許使用射頻開關配置和設置自動化的多通道測試（shì）。該解決方案允許您將多（duō）個發射機信號映射到指（zhǐ）定的輸入，並將選定的輸入轉發到另一個繼電器或示波器通（tōng）道（dào）。選項SWX-PCE支持使用Keithley和Gigatronics開關分別進行最多x12和（hé）x16通道的測試，增強了吞吐量和自動化（huà）測試速度。
如果DUT或Add-in Card的任何部分未（wèi）通過符合（hé）性測試，應用程序包括一個基於DPOJET的（de）調（diào）試和分析工具（jù）包，專門（mén）用於PCI Express接口的調試和驗證。
PCIe Gen3和Gen4引入的（de）新（xīn）抖動測量提供了針（zhēn）對數據依賴性抖動（dòng）（DDJ）和非相關確定性抖動（UDJDD）的獨立限製。分離（lí）DDJ（可（kě）以通過發射機和接收機均衡進行補償）和UDJDD（可能由串擾和（hé）電源噪聲等效應引起）非常重要。
除了上述抖（dǒu）動測量外，脈衝寬度抖動（PWJ）是一（yī）個新測量，用於解決8到16 Gb/s的信道損（sǔn）耗增（zēng）加問題。PWJ測量的目的是確保孤立比特符合最小脈衝寬（kuān）度要求。所有新抖動測（cè）量都實現了（le）基於基本規範的Q標（biāo）度外推法。Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項提供了完整的PCI Express 3.0、4.0和5.0基礎規範（fàn）抖（dǒu）動（dòng）測量集，幫助矽片設計人員驗證其矽片是（shì）否符合基礎規範要（yào）求。
此外，基礎（chǔ）規範（fàn）要求在發射機（jī）引腳（jiǎo）處定義。測量計算之前，必須去嵌測試通（tōng）道。可以（yǐ）使用Tektronix的SDLA64串行數據鏈路分析軟件輕鬆創建去嵌濾波器，然後將其快速輸（shū）入到PCE3和PCE4基礎規範測量設置（zhì）中並保存以備將來使用。除了抖動外，PCE3和PCE4還提供了電壓、封裝損耗和發射機均衡測量。
PCE3和PCE4選項利用Tektronix SDLA64軟件的信道建模和接收機均衡功能來支（zhī）持CEM測量。與其他解決方案不同，PCE3和PCE4選項提供了完整的信號可視性，展示了嵌入（rù）符合性信道後的信（xìn）號（hào）以及應用接收機（jī）均衡後的信號。可以設置眼圖和測量來（lái）直觀地查看信道嵌入、CTLE應用和DFE的結果。例如，在確定最佳Rx均衡（héng）設置（CTLE設（shè）置和DFE抽頭（tóu）值）時，生成的眼圖和測量顯示了後（hòu）處理對采集信號的（de）影響。然後可以在波形上進行符合性測（cè）量。
Tektronix創建了一個（gè）下（xià）一代PAM4工具，稱為PAMJET，用於Gen6基礎測量。該PAMJET工具可以配置測量，執行（háng）Bessel Thompson濾波，配置Gen6時鍾恢複，配置CTLE，並報告（gào）結果。這些內置功（gōng）能專為輔助Gen6基礎測試而設（shè）計。
