校準項目：包括外觀及工作正常性檢（jiǎn）查、參考晶體振蕩器頻率、信號發生模塊（射頻輸出頻（pín）率、射頻輸出電（diàn）平、諧波、非諧波、單邊帶相位噪聲、數字調製質量、占用帶寬、鄰道（dào）功率比、頻譜發射模板）、信（xìn）號分析模塊（射（shè）頻功率測量、數字調製質量參數測量、占用帶寬測量、鄰道功率比測量、頻譜發射（shè）模板測量）和射頻端口（電壓駐波比）等。
校準條件：確（què）保（bǎo）環境溫度在23℃±5℃，相對（duì）濕度≤80%，供電電源穩定，並避免電磁幹擾和機械振動。
校準用設備：使用（yòng）參考頻標、頻率計數（shù）器、功率計、矢量信號（hào）發生器、信號發生器、頻譜分析儀、測量接收機、矢量信號分析儀和網絡分析儀等專業設備進行（háng）校準。
校（xiào）準方法：采用連續波組（zǔ）合法或白噪聲法進行數字調製質量參數（shù）測（cè）量；使（shǐ）用功（gōng）率計或測（cè）量接收機直（zhí）接測（cè）量射頻輸出電平；利用矢量信號分（fèn）析儀直接測量誤差矢量幅度等。
校準結果表達：校準後，出具包含（hán）實驗室信息、被校（xiào）對象描述、校準日（rì）期、依據規範（fàn）、測量標準溯源性、環境描述、校準結果及不確定度說明等內容的校準證書。
複校時間間隔：推薦為1年，但用戶（hù）可根據使用情況自行確定複校時間間（jiān）隔24。
不（bú）確定度評定：對射頻（pín）輸出頻率、射頻輸出電平、誤（wù）差矢量（liàng）幅度和（hé）射頻功率測量等項目進行不確定度評定，確保校準結果的準確性和可靠性。
