內（nèi）置4路脈衝（chōng）發生器，用於內部源調製、中頻門控製，並從後麵板輸出。每路脈衝發生器的脈寬和（hé）延時獨立可設。
源調製來源包括後麵板輸入、內部脈衝發生（shēng）器（qì）和常開、常閉等多種狀態，既可利用（yòng）外部脈衝對矢量網絡分析儀的源進（jìn）行調製，也可以使其處於（yú）連續波狀態，通過觸發同步模式進行測量，為T/R組件、天線收發模塊等測試提供有力支撐。
提供完善的混（hún）頻器/變頻器特性設（shè）置，支持雙階（jiē）本振、外部本振源輸入；支（zhī）持線性掃、功（gōng）率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡單設置可（kě）自動完成複雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性（xìng）計算；支持源端口功率、本振端口功（gōng）率、衰減、功率掃特性設置等。
提供完整的混頻器（qì）/變頻器幅度響應、絕對相（xiàng）位及（jí）絕對（duì）時延響應測（cè）量能力。校準過程中引入雙（shuāng）混頻器實現（xiàn）參（cān）考通路變頻（pín）與校準通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變（biàn）頻特性一致，且校準混頻器要求變頻特性（xìng）互易。
單次（cì）連接即（jí）可完成混頻（pín）器/變頻器複（fù）數特性測量（liàng），幅度和相位測量精度高。
增益壓縮測量功能能夠通過一（yī）次連接、一次校準完成有源器件在工作頻帶內的線（xiàn）性增益、壓縮點增（zēng）益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功（gōng）率、線性輸入匹配等壓縮參數測量。
提供三維視圖功能，更好地展示被測件在激勵狀態下的（de）工作性（xìng）能，另外還可以（yǐ）展示（shì）頻率切麵（miàn）和功率切麵，可以直觀展現被（bèi）測件在每個頻率點和每個功率點的（de）特性。
一次連接（jiē），可（kě）同時測試S參數（shù）、噪聲係數、噪聲參數、增益（yì）壓縮和變頻增益（yì）等多種參數。基於冷（lěng）源噪聲係數測試方法，可（kě）進行精確的噪聲係數和噪聲參數測試。通過（guò）構建先進的（de）噪聲相關（guān）矩陣模型，結合矢量網絡分析儀精密的S參（cān）數校準，適用於較小噪聲係數被測件的精確測試。測量動態範圍最大（dà）可（kě）達55dB，適用於較大增益被測件的測試。
矢（shǐ）量網絡分析儀的每個端口都可以完（wán）成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可（kě）在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態（tài）。
針對有源器件的測試，頻譜測量功能可提供更多的測量（liàng）參（cān）數（shù），單台儀器通過單次連接可實現常規的S參（cān）數測試、雜（zá）散和諧波的定位測（cè）量；完備的比值和絕對測量誤差修正技術可提供更準確的測量結果。
具備強大的信號完整性測量分析能力，可提供微米級的空間分（fèn）辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測（cè）試分析，可以精準（zhǔn）測試傳輸線上阻抗特性的變化情況；便捷（jié）的近端與遠端串擾測試，用於測試多條傳輸線之間相互影響的程度。
高級時域分析選件具備基於網絡參數的虛擬眼圖生成及（jí）分（fèn）析功能。根據不（bú）同的（de）高速數字通信（xìn）標準，高級時域分析選件可以使（shǐ）用預先定義好的眼圖模板（bǎn）進行高效率Pass/Fail測試（shì）。
寬頻帶測試，可用（yòng）於真差分激勵下的（de）輸入輸出功率（lǜ）、增益、諧波總失真等參數的分析，簡（jiǎn）化差（chà）分器（qì）件（jiàn）的諧波性能測試複雜度。
單（dān）次校準同時完成多通道的（de）誤差修（xiū）正，設置和（hé）測量參數的編輯可通過XML文件（jiàn）的方（fāng）式進行，一鍵實現參（cān）數導入。
對（duì）於非標準接頭器（qì）件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢（shǐ）量網（wǎng）絡分析儀直接相連。通（tōng）常使用夾具將被測件連接到矢量網絡（luò）分析儀上，但同時（shí）夾具也引入了測量誤差。自（zì）動夾具移除功能可以進行夾具參數的提取、存儲以及（jí）夾具去（qù）嵌入，最終獲得被測件的真實參數。
界麵簡潔直觀，便於操作，提（tí）高測試效率
1-10MHz外（wài）參（cān）考輸入/輸出（chū）接口
2-110V/220V自適應電（diàn）源輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬（yìng）盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本（běn）振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提（tí）供靈活的測量配置
5-外中頻輸入接口，脈（mò）衝輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動測試接口，觸發輸入/輸出接口，噪聲源電源接口
