KEYENCE 基恩（ēn）士 分（fèn）光幹涉位移型多層膜厚（hòu）測量儀 SI-T 係列

產品簡（jiǎn）述：從（cóng）單層（céng）到多層，可以實現在線穩定測（cè）量，追求“易用性”，使導入變得（dé）更為簡單。融合 KEYENCE 的激光位移計和分光幹涉計，改變了（le）當今（jīn）膜厚測量儀（yí）的傳統（tǒng）概念（niàn）。