♦直觀（guān）的圖形化界麵設計，簡化了參數配置及I-V測試分析過程
♦支持（chí）從測量（liàng）設置、執行到結果分析、數（shù）據管（guǎn）理的（de）整個表征過程
♦針對MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型測試項，快速調（diào）用
♦自動化測試序（xù）列功能，連續執行器件多個參數測試
♦自動生成I-V曲線（xiàn）及（jí）運行結果參數（shù），加速曲線特性分析
♦多通道同步快速（sù）測試模式，最高支持32CH待測物同時在線測試
♦直觀的測試報表，將測試數據及圖表保存於數據庫並可導出excel
♦強大的圖表在線分（fèn）析功（gōng）能，支持曲線縮放、區域標（biāo）記、切線等（děng）分析工具
♦可搭配IT2800係列SMU，分辨率最高可達100nV/10fA
即用型測試項，加速器件表征測試
SPS5000軟件具有各種強大的功能，可以（yǐ）快速進行（háng）測量並（bìng）以圖形化方式獲取結果。為加速半導體器件檢定測試過程，SPS5000針對常見的器件類型，例如MOSFET、二極（jí）管、BJT以及薄膜（mó）電阻配備多種即用型測試項，使用者無需進行任何的測試（shì）項開發或（huò）代碼編（biān）程，即可快速執行複雜的半導體測試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測試為例，傳統的測試過程需（xū）要經過：定義測試變量-----開發測試流程-----編寫測（cè）試代碼-----執行測試。而通（tōng）過SPS5000軟件用戶（hù）僅需要三個簡單的步驟，即可快速完成測試，第一步選擇（zé）即用型測試（shì）項Id-Vd-----第二步配置測量條件-----第三步執行測試。
靈活提供（gòng）測（cè）試序列，提升測試效率
SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法，允許（xǔ）用戶選擇多個測試項來構建（jiàn）測試序（xù）列，以便對半導體（tǐ）器件參數指標進行連續測試，從而顯著縮短了測試時（shí）間。這項功能適用於具備（bèi）相同（tóng）接線方（fāng）式的測（cè）試項（xiàng）。在進行測（cè）試配置時（shí），當您選擇其中一個測試（shì）項，軟件會自動顯示具有相同測試（shì）接線的其他測試項。您可（kě）以根據具（jù）體的測試場（chǎng）景和需求，選（xuǎn）擇一次執行單個測試（shì）項（如Id-Vd）或組（zǔ）合成測試（shì）序列進行連續測試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實現半導體器件性能的評估（gū）和驗證。
